X射线测厚仪表面密度测量装置

Ⅰ . 测量原理及应用特点

测量方法为射线穿透吸收测量，测量的直接物理量为面积密度（克重）。当X射线穿透材料时，射线被材料反射、散射或吸收，导致射线强度发生一定的衰减，其衰减与穿透材料的表面密度正相关。

当材料的堆积密度固定或一致时，可以通过体积密度换算（面密度=密度*厚度）来测量材料的厚度。

X射线测厚仪是一种低能量辐射装置，可以通过电源来开启和关闭射线。一般情况下，不需要特殊保护。

X射线测厚仪一般采用O型扫描架。

X射线测厚仪与激光位移传感器结合，采用C型大理石扫描架衍生出X射线激光测厚机，可实现面密度和厚度的同时测量，可用于锂涂层的表面密度和头尾减薄的测量。

二．性能卓越的X射线测量传感器

1） X射线测量传感器是该机的关键核心技术，由具有20年经验的核探测专家打造，具有国内罕见的高重复性和长期稳定性。

2） X射线发射机采用双闭环电路控制系统，保证辐射强度长期稳定，测量重复性高。

3） X射线探测器采用德国前置放大电路技术，具有高信噪比。

4） X射线发射器采用特殊的狭缝射线准直通道和小光斑设计，结合高信噪比探测器和软件算法，可以提供更高的空间分辨率精度和条纹缺陷识别。

根据实际测量需要，X射线发射器的输出光斑设计为5*5mmΦ9mm和2*12mm。

其中2*12mm射线光斑是独特的优势技术，可实现锂镀层边缘减薄区域的尺寸测量。

三、X射线表面密度计/测厚仪的技术特点及强大的功能模块

1）可实现扫描测量、定点测量、循环定点测量、扫描与定点模式任意切换。

2）实时呈现单条/多条等高线、分区线、趋势线等丰富的测量曲线，并显示多种质量数据。

3）基于数据库的海量总值数据以excel格式存储，历史数据查询追溯，历史曲线重新显示。

4）专业SPC统计分析，自动生成质量报告，并可根据客户需求定制。

5）多种过程控制解决方案，实时过程监控、五线质量控制、多重预警报警、超限标记。

6）支持闭环自动控制，可与客户MES系统对接，可实现多机架点对点跟踪测量。

7）自主研发数据采集卡和控制板卡、实时通讯系统和CANOPEN总线通讯传输，保证高速测量响应。

8）更好的易用性和友好的人机界面，一键式智能操作。

四、性能参数

五、应用领域

锂电池正极涂层、锂电池隔膜及涂层、塑料薄膜、无纺布、金属箔、橡胶等各种片材、卷材或涂层表面密度（厚度）一致性的在线测量和控制。